Order a callback
You can order a callback using the form below. Specialists will contact you in the near future to advise you on all issues of interest.
Catalog
Chemical Composition Analyzers
Additive technologies
Vacuum equipment
High-precision measuring equipment
Hydraulic and mechanical presses
Microelectronics equipment
Optical and electron microscopy
Heat treatment equipment
JEOL JPS-9010
Идеальное решение для НИИ и лабораторий, университетов и опытных производств
JAMP-9500F
Используется для исследования поверхности производства
JXA-8230 Superprobe
Электронно-зондовый микроанализатор
JEOL JPS-9010
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010
Фотоэлектронный спектрометр XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9010 - рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
JEOL JPS-9010 аналитический инструмент для анализа и оценки элементного состава, химического состояния элементов на поверхности с высокой локальностью.
XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) - мощнейший аналитический инструмент для разработки новых материалов, тестирования поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др.
Серия приборов JEOL JPS-9010 состоит из трех приборов для достижения различных требований при исследовании: JPS-9010MC (с монохроматическим источником рентгеновского излучения), JPS-9010MX и JPS-9010TR (с использованием системы полного рентгеновского отражения- Total Reflection X-ray Photoelectron Spectroscopy (TRXPS)).
Фотоэлектронный спектрометр XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9010 - рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
JEOL JPS-9010 аналитический инструмент для анализа и оценки элементного состава, химического состояния элементов на поверхности с высокой локальностью.
XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) - мощнейший аналитический инструмент для разработки новых материалов, тестирования поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др.
Серия приборов JEOL JPS-9010 состоит из трех приборов для достижения различных требований при исследовании: JPS-9010MC (с монохроматическим источником рентгеновского излучения), JPS-9010MX и JPS-9010TR (с использованием системы полного рентгеновского отражения- Total Reflection X-ray Photoelectron Spectroscopy (TRXPS)).
- Высокая точность
- Источник рентгеновского излучения для минимизации повреждения образцов
- Компактный рентгеновский монохроматор
- Ультрачистая вакуумная система
- Автоматический анализатор для проведения рутинных измерений
- Большой предметный столик для больших образцов, таких как, например, жесткий диск компьютера
- Легкое в использовании Программное обеспечение
- Программное обеспечение для высокоскоростного разделения пиков
JPS-9200
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200
Новая разработка в области фотоэлектронной спектроскопии (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9200 - новый рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
В стандартной комплектации прибор оснащается как монохроматизированным, так и немонохроматизированным рентгеновскими источниками. Минимальный диаметр аналитического пятна составляет 30 микрон. Возможность картирования больших площадей (50 мм x 18 мм) достигается за счет механического сканирования столика образцов.
Используя режим РФЭС полного отражения (TRXPS) фон может быть существенно снижен, таким образцов улучшая минимальный предел обнаружения. Столик образцов полностью автоматизирован и обеспечивает плавное и точное позиционирование точки анализа. Спектрометр JPS-9200 управляется с помощью персонального компьютера и отличается простой в управлении посредством графического интерфейса пользователя.
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200
Новая разработка в области фотоэлектронной спектроскопии (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9200 - новый рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
В стандартной комплектации прибор оснащается как монохроматизированным, так и немонохроматизированным рентгеновскими источниками. Минимальный диаметр аналитического пятна составляет 30 микрон. Возможность картирования больших площадей (50 мм x 18 мм) достигается за счет механического сканирования столика образцов.
Используя режим РФЭС полного отражения (TRXPS) фон может быть существенно снижен, таким образцов улучшая минимальный предел обнаружения. Столик образцов полностью автоматизирован и обеспечивает плавное и точное позиционирование точки анализа. Спектрометр JPS-9200 управляется с помощью персонального компьютера и отличается простой в управлении посредством графического интерфейса пользователя.
JAMP-9500F
Оже-микроанализаторы с термополевой электронной пушкой обеспечивают получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению. Преимущество Оже-электронных микроанализаторов заключается в возможности исследования одномерных нанообъектов, а именно тонких (вплоть до одного монослоя) пленок, а также весьма высокая локальность анализа в латеральном направлении. Данные приборы в массивных образцах обеспечивают получение информации по элементному и химическому составу в областях глубиной до 1 нм и диаметром около 8 нм.
Метод Оже-электронной спектроскопии относится к числу методов анализа поверхности, поскольку глубина выхода Оже-электронов весьма мала (около 1 нм), и наряду с высокой поверхностной чувствительностью Оже-микроанализатор позволяет получать информацию о распределении элементов и их химическом состоянии как по поверхности (двумерное распределение или карта распределения элементного состава), так и в глубину путем ионного травления поверхности образца. Таким образом, путем послойного ионного травления поверхности образца может быть реализовано получение трехмерной информации о распределении элементного состава с разрешением 8 нм по поверхности и 1 нм в глубину.
Метод Оже-электронной спектроскопии относится к числу методов анализа поверхности, поскольку глубина выхода Оже-электронов весьма мала (около 1 нм), и наряду с высокой поверхностной чувствительностью Оже-микроанализатор позволяет получать информацию о распределении элементов и их химическом состоянии как по поверхности (двумерное распределение или карта распределения элементного состава), так и в глубину путем ионного травления поверхности образца. Таким образом, путем послойного ионного травления поверхности образца может быть реализовано получение трехмерной информации о распределении элементного состава с разрешением 8 нм по поверхности и 1 нм в глубину.
JXA-8530F
JXA-8530F Hyperprobe – первый в мире электронно-зондовый микроанализатор с катодом Шоттки. Развитие приборной базы ЭЗМА идет по пути уменьшения области анализа
(повышения локальности) и сейчас, с помощью JXA-8500F исследователи могут получать результаты, недоступные раньше.
В новом приборе были радикально улучшены вакуумная и электронно-оптическая системы. В результате зонд стал еще тоньше, а плотность тока выше, и это привело к тому, что повысилась локальность анализа и интенсивность сигнала, даже при низких ускоряющих напряжениях. Это также сделало анализ более эффективным, за меньшее время можно получить не только количественный анализ, но и карту распределения элементов высокого качества и т.д.
Таким образом, благодаря радикальному улучшению характеристик, расширяются области использования микрозонда, включая ранее недоступные, такие, как анализ наночастиц, точный количественный анализ низких концентраций элементов, в том числе легких, использование микрозонда в решении задач геохронологии и т.д. На колонну, в дополнение к волновым спектрометрам, можно установить один энергодисперсионный спектрометр, который позволяет качественный экспресс-анализ всего спектра (10-20 сек), а также количественный анализ основных элементов (60-150 сек), картирование по площади и вдоль линии.
(повышения локальности) и сейчас, с помощью JXA-8500F исследователи могут получать результаты, недоступные раньше.
В новом приборе были радикально улучшены вакуумная и электронно-оптическая системы. В результате зонд стал еще тоньше, а плотность тока выше, и это привело к тому, что повысилась локальность анализа и интенсивность сигнала, даже при низких ускоряющих напряжениях. Это также сделало анализ более эффективным, за меньшее время можно получить не только количественный анализ, но и карту распределения элементов высокого качества и т.д.
Таким образом, благодаря радикальному улучшению характеристик, расширяются области использования микрозонда, включая ранее недоступные, такие, как анализ наночастиц, точный количественный анализ низких концентраций элементов, в том числе легких, использование микрозонда в решении задач геохронологии и т.д. На колонну, в дополнение к волновым спектрометрам, можно установить один энергодисперсионный спектрометр, который позволяет качественный экспресс-анализ всего спектра (10-20 сек), а также количественный анализ основных элементов (60-150 сек), картирование по площади и вдоль линии.
JXA-8230 Superprobe
Новейшая модель электронно-зондового микроанализатора (микрозонда) JEOL JXA-8230, пятое поколение Суперпроба, является логическим продолжением линейки приборов данного класса JEOL JXA-8100 и JXA-8200 и обладает, по сравнению с ними, рядом новшеств и преимуществ.
Разработчики JEOL работают в тесном сотрудничестве с исследователями, учитывая их рекомендации и пожелания. В итоге такого сотрудничества был создан прибор, сочетающий наилучшие характеристики, широчайшие возможности и простоту управления. Микрозонд предназначен, в первую очередь, для локального количественного анализа большого количества образцов в диапазоне элементов от бериллия до урана, построения карт распределения элементов по площади, вдоль профиля и т.д. Предел обнаружения для большинства элементов составляет не хуже 10ppm, в зависимости от применяемых стандартов, способа пробоподготовки и методик измерения.
Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации, от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это позволяет оператору днем только намечать точки для анализа.
Микрозонд проанализирует все в автоматическом режиме. В отличие от приборов предыдущих поколений, новые модели позволяют получать не только анализы, но и изображения высокого качества во вторичных и отраженных электронах, картины катодолюминесценции и картины дифракции отраженных электронов.
Разработчики JEOL работают в тесном сотрудничестве с исследователями, учитывая их рекомендации и пожелания. В итоге такого сотрудничества был создан прибор, сочетающий наилучшие характеристики, широчайшие возможности и простоту управления. Микрозонд предназначен, в первую очередь, для локального количественного анализа большого количества образцов в диапазоне элементов от бериллия до урана, построения карт распределения элементов по площади, вдоль профиля и т.д. Предел обнаружения для большинства элементов составляет не хуже 10ppm, в зависимости от применяемых стандартов, способа пробоподготовки и методик измерения.
Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации, от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это позволяет оператору днем только намечать точки для анализа.
Микрозонд проанализирует все в автоматическом режиме. В отличие от приборов предыдущих поколений, новые модели позволяют получать не только анализы, но и изображения высокого качества во вторичных и отраженных электронах, картины катодолюминесценции и картины дифракции отраженных электронов.
SMZ25
MZ 25 и SMZ 18 произвели настоящую революцию в области стереомикроскопии, благодаря уникальному диапазону трансфокации, модульной конструкции, удобству эксплуатации и сверхпроизводительной оптике. Новые модели серии SMZ обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Инновационная оптическая система “Perfect Zoom Optics” впервые в истории обеспечивает коэффициент трансфокации 25:1. Даже при использовании объектива 1x модель SMZ25 регистрирует всю 35 мм чашку Петри и одновременно показывает микроскопические детали.
Характеристики
Инновационная оптическая система “Perfect Zoom Optics” впервые в истории обеспечивает коэффициент трансфокации 25:1. Даже при использовании объектива 1x модель SMZ25 регистрирует всю 35 мм чашку Петри и одновременно показывает микроскопические детали.
Характеристики
- Самый большой в мире диапазон трансфокации (25:1) и самое высокое разрешение среди моделей серии SMZ (SMZ 25)
- Моторизованные системы фокусировки и увеличения в модели SM 25
- Кристально четкие изображения при наблюдении по методу флуоресценции, как и при обычных способах освещения
- Простой в управлении базовый блок в плоском корпусе, с косым когерентным контрастным освещением (OCC) (метод косого освещения, разработанный Nikon)
SMZ18
Исследовательский микроскоп с параллельной оптической системой позволяет получать как макро так и микро изображения в одном ручном инструменте для удобного недорогого получения изображений и манипуляций как с отдельными клетками так и целыми организмами Высокоэффективные фасеточные линзы позволяют получать кристально чистые флуоресцентные изображения с равномерной яркостью по всему полю обзора.
Используя улучшенную эпи-флуоресцентную технологию для улучшения соотношения сигнал/шума и яркости и для получения высококонтрастных изображений даже в диапазоне малых увеличений инструмент имеет превосходную способность обнаруживать вызванное свечение (флуоресценцию) по сравнению с возможностями традиционного флуоресцентного микроскопа.
Используя улучшенную эпи-флуоресцентную технологию для улучшения соотношения сигнал/шума и яркости и для получения высококонтрастных изображений даже в диапазоне малых увеличений инструмент имеет превосходную способность обнаруживать вызванное свечение (флуоресценцию) по сравнению с возможностями традиционного флуоресцентного микроскопа.
SMZ1270
Универсальные стереомикроскопы серии Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
На выбор предлагаются две модели:
SMZ1270 - без автоматического определния увеличения.
SMZ1270i - с автоматическим определением увеличения.
На выбор предлагаются две модели:
SMZ1270 - без автоматического определния увеличения.
SMZ1270i - с автоматическим определением увеличения.
SMZ1270i
Новый стереомикроскоп с параллельной оптической системой имеет лучшую в своем классе функциональность и коэффициент масштабирования, улучшенную оптику и интеллектуальную функцию получения изображений.
Инструмент имеет тринокулярный наклонный тубус и револьверный механизм объектива.
Инструмент имеет тринокулярный наклонный тубус и револьверный механизм объектива.
- Оптическая система: параллельная оптика
- Коэффициент трансфокации: -2.7:1
- Диапазон увеличения: -0.63 – 8x (с шагом 0.63/1/2/3/4/6/8x )
- Общее увеличение: -3.15 – 480x (в зависимости от использованного объектива и окуляра) (с коаксиальным эпископическим осветителем: 15 – 540x)
- Тубусы: Угол наклона 20° (P-B Бинокулярный тубус) / 15° (P-TL100
- Тринокулярный тубус) / 0°-30° (P-TERG100
- Тринокулярный наклонный тубус, P-TERG50 Тринокулярный наклонный тубус)
- Окуляры: C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12.5), C-W30x (F.N. 7)
- Объективы: Plan Apo 0.5x/WF, Plan Apo 0.75x/WF, Plan Apo 1x/WF, ED Plan 1.5x/WF, ED Plan 2x/WF
- Рабочее расстояние: 70mm (с Plan Apo 1x/WF)
SMZ1000
Стереомикроскоп с параллельной оптической системой и коэффициентом трансфокации 10:1, превосходным качеством оптики и продвинутой эргономикой.
Это один из передовых стереомикроскопов Nikon, сочетающий в себе отличные оптические характеристики и эргономичность. Благодаря объективам с высокой числовой апертурой и уникальной системе освещения Nikon, стереомикроскоп SMZ1000 может решать самые сложные задачи по созданию и обработке изображений, которые ранее были под силу только сложным модульным микроскопам.
Это один из передовых стереомикроскопов Nikon, сочетающий в себе отличные оптические характеристики и эргономичность. Благодаря объективам с высокой числовой апертурой и уникальной системе освещения Nikon, стереомикроскоп SMZ1000 может решать самые сложные задачи по созданию и обработке изображений, которые ранее были под силу только сложным модульным микроскопам.
SMZ800
Стереомикроскоп с параллельной оптической системой Сочетание эргономичной конструкции, коэффициента трансфокации 6,3:1 и широких возможностей для расширения по функциональным возможностям.
Благодаря эргономичной конструкции микроскопа оператор может принять удобное положение во время работы, при этом во время долгих часов наблюдений усталость не накапливается. В дополнение к превосходным оптическим характеристикам для этого микроскопа предлагается широкий выбор принадлежностей, позволяющих по доступной цене расширить систему в соответствии с вашими потребностями.
Благодаря эргономичной конструкции микроскопа оператор может принять удобное положение во время работы, при этом во время долгих часов наблюдений усталость не накапливается. В дополнение к превосходным оптическим характеристикам для этого микроскопа предлагается широкий выбор принадлежностей, позволяющих по доступной цене расширить систему в соответствии с вашими потребностями.
SMZ800N
Благодаря повышенному до 8x (1x - 8x) диапазону увеличений этот новейший стереомикроскоп от Nikon отличается удобством использования и высокой разрешающей способностью, что важно, например, при применении в области ЭКО. Кроме того, недавно разработанные объективы Plan Apo WF и ED plan WF позволяют получать более четкие и ясные изображения.
- Диапазон трансфокации: 1-8х
- Увеличение: 5 – 480x (в зависимости от окуляра и объективов)
- С коаксиальным эпископическим осветителем: 22,5 - 540x
SMZ745
Для реализации масштабирования 7,5х применяется оптическая система Грену. Диапазон увеличения от 0,67х до 5х обеспечивает широкий диапазон наблюдений.
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм.
Стереоскопический микроскоп Nikon представлен в двух исполнениях: модель SMZ745T со встроенной тринокулярной головкой (с портом для цифровой камеры) и модель SMZ745 с бинокуляром.
Модель SMZ745T снабжена рычагом переключения оптического тракта, который позволяет легко переключаться между окуляром и камерой. Порт для камеры и встроенный 0,55х адаптер C-mount, позволяет подключать цифровые камеры серии DS от Nikon.
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм.
Стереоскопический микроскоп Nikon представлен в двух исполнениях: модель SMZ745T со встроенной тринокулярной головкой (с портом для цифровой камеры) и модель SMZ745 с бинокуляром.
Модель SMZ745T снабжена рычагом переключения оптического тракта, который позволяет легко переключаться между окуляром и камерой. Порт для камеры и встроенный 0,55х адаптер C-mount, позволяет подключать цифровые камеры серии DS от Nikon.
SMZ445
Микроскопы SMZ445 и SMZ460 обеспечивают высочайшее оптическое качество, свойственное самой передовой серии стереоскопических микроскопов Nikon. Призмы Порро обеспечивают легкость и компактность конструкции.
На выбор предлагаются две модели:
SMZ445 с увеличением 0,8х – 3,5х и углом наклона 45°,
SMZ460 с увеличением 0,7х – 3,0х и углом наклона 60°.
Благодаря новому диаскопическому/эпископическому штативу LED данные микроскопы обеспечивают возможность наблюдения широкого спектра образцов, включая чашки Петри, растения, насекомые, мелкие животные и минералы.
На выбор предлагаются две модели:
SMZ445 с увеличением 0,8х – 3,5х и углом наклона 45°,
SMZ460 с увеличением 0,7х – 3,0х и углом наклона 60°.
Благодаря новому диаскопическому/эпископическому штативу LED данные микроскопы обеспечивают возможность наблюдения широкого спектра образцов, включая чашки Петри, растения, насекомые, мелкие животные и минералы.
SMZ460
Компактные, легкие и экономичные микроскопы с новой оптикой, оснащенной призмой Порро и оптической системой Грену.
Модели микроскопов отличаются углом наклона окуляров и увеличением трансфокатора:
SMZ445 с увеличением 0,8х – 3,5х и углом наклона 45°
SMZ460 с увеличением 0,7х – 3,0х и углом наклона 60°
Модели микроскопов отличаются углом наклона окуляров и увеличением трансфокатора:
SMZ445 с увеличением 0,8х – 3,5х и углом наклона 45°
SMZ460 с увеличением 0,7х – 3,0х и углом наклона 60°
AZ100 Multizoom
Cистема получения макроизображений для применения в области биомедицины и промышленности
Монохромная охлаждаемая камера DS-Qi2
Позволяет получать изображения со сверхвысоким разрешением 4908 х 3264 пикселей (16.25 Мегапикселей).
Цветная камера DS-Ri2
Позволяет получать изображения со сверхвысоким разрешением 4908 х 3264 пикселей (16.25 Мегапикселей).
Камера с высокой скоростью передачи данных DS-Vi1
Позволяет получать изображения с разрешением 1600 х 1200 пикселей
Цветная охлаждаемая камера DS-Fi1с
Позволяет получать изображения с высоким разрешением 2560 х 1920 пикселей
AZ100 Multizoom
Система получения макроизображений для применения в области биомедицины и промышленности.
Методы наблюдения:
Методы наблюдения:
- Проходящий свет: светлое поле, ДИК Номарски, простая поляризация и косое освещение
- Отраженный свет: флуоресценция, ДИК Номарски, коаксиальное освещение и светодиодное «холодное» освещение
- Диапазон увеличения: От 5х до 400х (в зависимости от комбинации окуляра и объектива), от 6,25х до 500х при использовании коаксиального осветителя
Монохромная охлаждаемая камера DS-Qi2
Позволяет получать изображения со сверхвысоким разрешением 4908 х 3264 пикселей (16.25 Мегапикселей).
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую монохромную камеру DS-Qi2 формата Nikon FX.
Большой размер пикселя 7,3 мкм, высокая квантовая эффективность и низкий шум считывания позволяют DS-Qi2 регистрировать даже слабые флуоресцентные сигналы.
Ошибка линейности составляет менее 1%, что позволяет проводить точные измерения интенсивности сигнала.
Шум считывания 2,2 электрона, большая емкость и темновой шум 0,6 электронов позволяют обеспечить регистрацию сигналов с очень низким уровнем шума.
Подключение к компьютеру осуществляется напрямую через кабель USB3.0
Серийная съемка флуоресцентных изображений доступна в программе NIS-Elements. Камера обеспечивает большое поле зрения наряду с регистрацией ультрамелких структур.
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую монохромную камеру DS-Qi2 формата Nikon FX.
Большой размер пикселя 7,3 мкм, высокая квантовая эффективность и низкий шум считывания позволяют DS-Qi2 регистрировать даже слабые флуоресцентные сигналы.
Ошибка линейности составляет менее 1%, что позволяет проводить точные измерения интенсивности сигнала.
Шум считывания 2,2 электрона, большая емкость и темновой шум 0,6 электронов позволяют обеспечить регистрацию сигналов с очень низким уровнем шума.
Подключение к компьютеру осуществляется напрямую через кабель USB3.0
Серийная съемка флуоресцентных изображений доступна в программе NIS-Elements. Камера обеспечивает большое поле зрения наряду с регистрацией ультрамелких структур.
Цветная камера DS-Ri2
Позволяет получать изображения со сверхвысоким разрешением 4908 х 3264 пикселей (16.25 Мегапикселей).
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую цветную камеру DS-Ri2 формата Nikon FX.
Nikon DS-Ri2 имеет великолепную цветопередачу и быструю скорость.
Для работы с камерой DS-Ri2 не требуются никакие дополнительные блоки управления, подключение к компьютеру осуществляется через кабель USB3.0.
Просмотр и анализ изображений доступны в программе NIS-Elements.
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую цветную камеру DS-Ri2 формата Nikon FX.
Nikon DS-Ri2 имеет великолепную цветопередачу и быструю скорость.
Для работы с камерой DS-Ri2 не требуются никакие дополнительные блоки управления, подключение к компьютеру осуществляется через кабель USB3.0.
Просмотр и анализ изображений доступны в программе NIS-Elements.
Камера с высокой скоростью передачи данных DS-Vi1
Позволяет получать изображения со сверхвысоким разрешением 4908 х 3264 пикселей (16.25 Мегапикселей).
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую цветную камеру DS-Ri2 формата Nikon FX.
Nikon DS-Ri2 имеет великолепную цветопередачу и быструю скорость.
Для работы с камерой DS-Ri2 не требуются никакие дополнительные блоки управления, подключение к компьютеру осуществляется через кабель USB3.0.
Просмотр и анализ изображений доступны в программе NIS-Elements.
Благодаря оптимизации КМОП (CMOS) сенсоров цифровых камер SLR и технологии получения изображения в микроскопии, компания Nikon разработала высокоразрешающую цветную камеру DS-Ri2 формата Nikon FX.
Nikon DS-Ri2 имеет великолепную цветопередачу и быструю скорость.
Для работы с камерой DS-Ri2 не требуются никакие дополнительные блоки управления, подключение к компьютеру осуществляется через кабель USB3.0.
Просмотр и анализ изображений доступны в программе NIS-Elements.
Цветная охлаждаемая камера DS-Fi1с
Позволяет получать изображения с высоким разрешением 2560 х 1920 пикселей.
В камере установлена 5,0-мегапиксельная цветная CCD-матрица и элемент Пельтье, охлаждающий камеру на 20°C ниже температуры окружающей среды. Даже при получении флуоресцентных изображений, требующих более длительного времени экспозиции, можно получить высококонтрастные снимки с низким уровнем теплового шума.
Для работы с камерой требуется наличие блока управления DS-L3/U3
В камере установлена 5,0-мегапиксельная цветная CCD-матрица и элемент Пельтье, охлаждающий камеру на 20°C ниже температуры окружающей среды. Даже при получении флуоресцентных изображений, требующих более длительного времени экспозиции, можно получить высококонтрастные снимки с низким уровнем теплового шума.
Для работы с камерой требуется наличие блока управления DS-L3/U3
Цветная камера DS-Fi2
Позволяет получать изображения с высоким разрешением 2560 х 1920 пикселей
Блок управления DS-U3
Позволяет контролировать все функции через компьютер и легко настраивается для выполнения различных задач
Автономный блок управления DS-L3
Обеспечивает быстрое получение изображений даже без компьютера или компьютерного монитора
NIKON NEXIV FOUP (NEXIV VMR-C4540)
Полностью автоматизированная система для измерения кассет для полупроводниковых пластин
NEXIV Confocal VMZ-K6555
Продвинутая конфокальная метрологическая система технического зрения обеспечивает новые возможности согласно требованиям
Цветная камера DS-Fi2
Позволяет получать изображения с высоким разрешением 2560 х 1920 пикселей. Может использоваться для выполнения различных задач, в том числе, для наблюдений по методу светлого поля, фазового контраста и дифференциально-интерференционного контраста.
В дополнение к высокой скорости, равной 21 кадров/сек, эта модель предусматривает настройку времени экспозиции для адаптации к различным образцам.
Для работы с камерой требуется наличие блока управления DS-L3/U3
CCD-матрица: 2/3 дюймовая CCD-матрица высокой плотности; Общее количество пикселей: 5,24 мегапикселей (количество эффективных мегапикселей - 5,07)
В дополнение к высокой скорости, равной 21 кадров/сек, эта модель предусматривает настройку времени экспозиции для адаптации к различным образцам.
Для работы с камерой требуется наличие блока управления DS-L3/U3
CCD-матрица: 2/3 дюймовая CCD-матрица высокой плотности; Общее количество пикселей: 5,24 мегапикселей (количество эффективных мегапикселей - 5,07)
Блок управления DS-U3
Позволяет контролировать все функции через компьютер и легко настраивается для выполнения различных задач, начиная от отображения и съемки «живых» изображений и кончая современной обработкой и анализом изображений.
Обеспечивает контроль моторизованных блоков микроскопа (поворот револьвера или турели фильтров и т.д.) и автоматическое определение коэффициента увеличения объективов (при определении состояния револьвера).
Соединение с компьютером происходит через кабель IEEE1394b 9-9pin.
Расположение экрана зависит от выполняемых задач. При помощи кнопок и вкладок можно изменить положение каждого окна или включить/выключить экран.
Обеспечивает контроль моторизованных блоков микроскопа (поворот револьвера или турели фильтров и т.д.) и автоматическое определение коэффициента увеличения объективов (при определении состояния револьвера).
Соединение с компьютером происходит через кабель IEEE1394b 9-9pin.
Расположение экрана зависит от выполняемых задач. При помощи кнопок и вкладок можно изменить положение каждого окна или включить/выключить экран.
Автономный блок управления DS-L3
Обеспечивает быстрое получение изображений даже без компьютера или компьютерного монитора.
Встроенный 8,4" сенсорный экран с разрешением 1024 x 768. легкий в использовании он обеспечивает простоту настройки и эксплуатации камеры
Оптимальные параметры съемки для каждого типа образца и метода наблюдения можно легко настроить при помощи иконок.
Легкое и интуитивно понятное меню.
Предусмотрены пять режимов съемки, обеспечивающих получение изображений биологических образцов, четыре режима для регистрации для материаловедения и до семи пользовательских режимов со свободно настраиваемыми параметрами съемки.
Встроенный 8,4" сенсорный экран с разрешением 1024 x 768. легкий в использовании он обеспечивает простоту настройки и эксплуатации камеры
Оптимальные параметры съемки для каждого типа образца и метода наблюдения можно легко настроить при помощи иконок.
Легкое и интуитивно понятное меню.
Предусмотрены пять режимов съемки, обеспечивающих получение изображений биологических образцов, четыре режима для регистрации для материаловедения и до семи пользовательских режимов со свободно настраиваемыми параметрами съемки.
Универсальные штативы Nikon
Промышленная метрология
Никогда еще промышленный метрологический контроль не был таким простым. Благодаря программному обеспечению SensoPRO и оптическим профилометрам серии PLu CP, оператору производственной линии необходимо лишь загрузить образцы для контроля в установку и следовать инструкциям программы. Программа SensoPRO непосредственно связана с программной частью оптических профилометров Sensofar. Используя программно заданный алгоритм, PLu CP производит сбор данных в режиме 3D и передает их в SensoPRO. Получив данные, SensoPRO производит необходимые вычисления в соответствии с выбранным режимом (алгоритмом) и параметрами. Существует несколько стандартных алгоритмов для анализа поверхностей, например для анализа корпусов микросхем в полупроводниковой промышленности. Разумеется, присутствует возможность создания новых алгоритмов и задания параметров для нетиповых производственных процессов.
Никогда еще промышленный метрологический контроль не был таким простым. Благодаря программному обеспечению SensoPRO и оптическим профилометрам серии PLu CP, оператору производственной линии необходимо лишь загрузить образцы для контроля в установку и следовать инструкциям программы. Программа SensoPRO непосредственно связана с программной частью оптических профилометров Sensofar. Используя программно заданный алгоритм, PLu CP производит сбор данных в режиме 3D и передает их в SensoPRO. Получив данные, SensoPRO производит необходимые вычисления в соответствии с выбранным режимом (алгоритмом) и параметрами. Существует несколько стандартных алгоритмов для анализа поверхностей, например для анализа корпусов микросхем в полупроводниковой промышленности. Разумеется, присутствует возможность создания новых алгоритмов и задания параметров для нетиповых производственных процессов.
Штативы Nikon
FSAS III - Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов «RIGAKU» (Япония), определение ориентации слитков, пластин (кремний, A3B5, сапфир, кварц и др.)
Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов Rigaku FSAS III.
Автоматическое определение ориентаций монокристаллов кремния, германия, арсенида галлия, кварца, сапфира и др.
Данные могут передаваться на автоматический отрезной станок для отреза в нужной плоскости.
Надежная блокировка дверей системы от открывания во время анализа.
Особенности модели:
Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов Rigaku FSAS III.
Автоматическое определение ориентаций монокристаллов кремния, германия, арсенида галлия, кварца, сапфира и др.
Данные могут передаваться на автоматический отрезной станок для отреза в нужной плоскости.
Надежная блокировка дверей системы от открывания во время анализа.
Особенности модели:
- точность проведения измерений + 30”, -30” (0,012 градусов)
- габариты и вес 1300х780х1600 мм, 400 кг
- защита от рентгеновского излучения закрытый кожух
- рентгеновский генератор
- материал мишени рентгеновской трубки – медь
- система охлаждения рентгеновской трубки – охлаждение воздухом с помощью вентилятора
- максимальный номинальный режим работы – напряжение трубки: 30 кВ (фиксированное),
- ток трубки: до 1 мА (регулируемый)
- система детектирования: сцитилляционный счетчик
- гониометр (диапазон углов измерения – Teta 0-50 градусов
- Управление от встроенного компьютера
Аксессуары для наблюдения Nikon
SensoMAP - программный продукт, основанный на технологии «Mountains Technology®» компании «Digital Surf». Данное программное обеспечение работает под управлением Windows ОС и предназначено для измерений размеров и параметров поверхностей. Это ПО используется уже в течении 10-ти лет и признано многими производителями метрологического оборудования, и более чем 2000 исследователей и метрологов по всему миру. Этот программный комплекс отличается легкостью в использовании, высокой производительностью и стабильностью. SensoMAP разработан для автоматической работы с аппаратной частью любого из профилометров серии PLu. Модули программы SensoMAP разработаны для каждого из секторов метрологии поверхности:
SensoMAP standard - модуль для основного разностороннего анализа при 2D и 3D измерениях
SensoMAP FFT - модуль для анализа с использованием преобразований Фурье при топографических измерениях
SensoMAP Plus - модуль для продвинутого профилометрического анализа, включая текстуру, объем и большого перечня прочих параметров
SensoMAP Turbo - модуль для наиболее полного анализа, включая бинаризацию, модули анализа структур, FFT модули и другие.
SensoMAP - это результат более чем десяти лет исследований и инноваций. Это первая программа, в которой был заложен принцип разметки аналитического поля программы. Производители другого метрологического программного обеспечения часто копируют функции программы SensoMAP, но ни одна подобная программа не превосходит по свои показателем уровень SensoMAP. Она сочетает в себе глубокие знания и научный путь, пройденный в процессе ее создания.
Вместе с данным программным обеспечением поставляется инструкция на 6-ти языках.
SensoMAP standard - модуль для основного разностороннего анализа при 2D и 3D измерениях
SensoMAP FFT - модуль для анализа с использованием преобразований Фурье при топографических измерениях
SensoMAP Plus - модуль для продвинутого профилометрического анализа, включая текстуру, объем и большого перечня прочих параметров
SensoMAP Turbo - модуль для наиболее полного анализа, включая бинаризацию, модули анализа структур, FFT модули и другие.
SensoMAP - это результат более чем десяти лет исследований и инноваций. Это первая программа, в которой был заложен принцип разметки аналитического поля программы. Производители другого метрологического программного обеспечения часто копируют функции программы SensoMAP, но ни одна подобная программа не превосходит по свои показателем уровень SensoMAP. Она сочетает в себе глубокие знания и научный путь, пройденный в процессе ее создания.
Вместе с данным программным обеспечением поставляется инструкция на 6-ти языках.
Предметные столики Nikon
Серия PLu для контроля продукции специально разработана для быстрого оптического анализа больших образцов, таких как печатные платы, устройства, выполненные по технологии флип-чип и других целей. Основываясь на хорошо зарекомендовавшей себя технологии оптического профилирования вы можете анализировать любые поверхности при помощи интерферометрического метода (PLu 4300 CP) или сочетания интерферометрического и конфокального методов (PLu 2300 CP). Устройство выполнено с использованием гранитной платформы и позволяет размещать образцы размером до 610х610 мм. Большое количество разнотипных зажимов и держателей образцов дает возможность для измерения различных образцов: от больших печатных плат, до нескольких флип-чип корпусов.
Характеристики:
Характеристики:
- Большой размер образцов: до 610 x 610 мм
- Быстрый и надежный метод измерений и аналитики в 3D
- Полностью автоматическая система сбора данных и анализа
- Высочайшая произвольность для производственного контроля
Осветительные системы Nikon
2991F2 - Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов «RIGAKU» (Япония), определение ориентации слитков, пластин (кремний, A3B5, сапфир, кварц и др.)
Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов «RIGAKU» (Модель 2991F2)
Особенности модели:
Рентгеновская дифракционная система для определения ориентаций монокристаллов «RIGAKU» (Модель 2991F2)
Особенности модели:
- Точность проведения измерений + 30”, -30”
- Габариты и вес -1296х726х1514 мм, 300 кг
- Защита от рентгеновского излучения закрытый кожух
- Питание установки – 100 В, 15 А, 50/60 Гц)
NIKON NEXIV FOUP (NEXIV VMR-C4540)
NEXIV FOUP (NEXIV VMR-C4540) бесконтактная, полностью автоматизированная система для измерения кассет для полупроводниковых пластин
Обеспечивает измерение всех размеров, что необходимо для производства кассет для полупроводниковых пластин, включая контроль за деформацией, вызванной старением кассет.
Система NEXIV FOUP (NEXIV VMR-C4540), предназначенная для 300-мм кассет типа FOUP и FOSB, обнаруживает трудноразличимые кромки благодаря использованию различных характеристик освещения и уникальных технологий обработки изображений от Nikon. Путем внедрения системы Laser AF, обеспечивающей возможность быстрой, бесконтактной фокусировки, даже в случае прозрачных поверхностей и по периферии пластины, включая самые края, система VMR-C4540 может измерять размеры стандарта SEMI с очень высокой точностью.
Обеспечивает измерение всех размеров, что необходимо для производства кассет для полупроводниковых пластин, включая контроль за деформацией, вызванной старением кассет.
Система NEXIV FOUP (NEXIV VMR-C4540), предназначенная для 300-мм кассет типа FOUP и FOSB, обнаруживает трудноразличимые кромки благодаря использованию различных характеристик освещения и уникальных технологий обработки изображений от Nikon. Путем внедрения системы Laser AF, обеспечивающей возможность быстрой, бесконтактной фокусировки, даже в случае прозрачных поверхностей и по периферии пластины, включая самые края, система VMR-C4540 может измерять размеры стандарта SEMI с очень высокой точностью.
NEXIV Confocal VMZ-K6555
Продвинутая конфокальная метрологическая система технического зрения обеспечивает новые возможности согласно требованиям заказчика.
Новая конфокальная система технического зрения NEXIV VMZ-K6555 была разработана как продолжение лидерства компании NIKON в области технологий опто-мехатроники.
Система соединяет в себе различную конфокальную оптику для быстрого точного определения размеров трехмерной поверхности, технологию получения изображений и TTL систему лазерного автофокуса. Это позволяет измерять как 2D размеры так и высоту структуры на различных поверхностях, т.е. получать 3-D картину поверхности.
Новая конфокальная система технического зрения NEXIV VMZ-K6555 была разработана как продолжение лидерства компании NIKON в области технологий опто-мехатроники.
Система соединяет в себе различную конфокальную оптику для быстрого точного определения размеров трехмерной поверхности, технологию получения изображений и TTL систему лазерного автофокуса. Это позволяет измерять как 2D размеры так и высоту структуры на различных поверхностях, т.е. получать 3-D картину поверхности.
JEM-ARM300F
Электронный микроскоп с атомным разрешением и максимальным ускоряющим напряжением 300кВ, оснащен Cs-корректором
JEOL JEM-1011
Электронная оптика прибора рассчитана на получение максимального контраста на биологических препаратах
JEOL JEM-1400
Новейший прибор, оптимизированный для получения высококонтрастных высокоразрешающих изображений, в первую очередь на медико-биологических образцах
JEOL JEM-2100
Имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций.
JEOL JEM-2100F
Высокая стабильность, великолепные технические характеристики, расширяемость функциональных возможностей, высокое разрешение—основные черты этого прибора
JEOL JEM-2200FS
Оптимальное решение для исследований в области нанотехнологий, включая нанобиотехнологии, материаловедение и полупроводниковую промышленность
JEOL JEM-ARM200F
Самое высокое в мире гарантируемое разрешение в просвечивающем растровом режиме с темнопольным детектором (STEM-HAADF) составляет 0,08 нм
JEOL JEM-3100F
Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией, имеющий разрешение 0,17 нм—лучший показатель среди всех аналогичных приборов, доступных на рынке
JEM-3200FS
Единственный в мире 300 кВ просвечивающий электронный микроскоп, имеющий встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр
JEM-F200
Это универсальный 200кВ аналитический просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, воплотивший в себе весь многолетний опыт специалистов компании JEOL по разработке удобных в эксплуатации, надежных ПЭМ высокого разрешения.
Данный электронный позволяет реализовать широкий диапазон методов получения изображений от светло польных/темнопольных ПЭМ или ПРЭМ, при этом возможно использование различных источников электронов (термополевого либо автоэмиссионного), разных полюсных наконечников и разнообразных приставок для исследования любых образцов и решения любых задач.
Данный электронный позволяет реализовать широкий диапазон методов получения изображений от светло польных/темнопольных ПЭМ или ПРЭМ, при этом возможно использование различных источников электронов (термополевого либо автоэмиссионного), разных полюсных наконечников и разнообразных приставок для исследования любых образцов и решения любых задач.
JEM-2800
Это высокопроизводительный аналитический ПЭМ с автоматизированным управлением
Универсальный ПЭМ получает микрофотографии в режимах просвечивающего, растрового просвечивающего и растрового микроскопов, проводит высокочувствительный элементный анализ при помощи широкоуглового энергодисперсионного спектрометра (ЭДС) и химический анализ с использованием спектрометра характеристических потерь энергии электронов, позволяет оценивать размеры компонент, проводить томографию и «in situ»-наблюдения за образцами. JEM-2800 полностью удовлетворяет требованиям для работы в чистых помещениях.
Универсальный ПЭМ получает микрофотографии в режимах просвечивающего, растрового просвечивающего и растрового микроскопов, проводит высокочувствительный элементный анализ при помощи широкоуглового энергодисперсионного спектрометра (ЭДС) и химический анализ с использованием спектрометра характеристических потерь энергии электронов, позволяет оценивать размеры компонент, проводить томографию и «in situ»-наблюдения за образцами. JEM-2800 полностью удовлетворяет требованиям для работы в чистых помещениях.
JEM-ARM300F
Электронный микроскоп с атомным разрешением и максимальным ускоряющим напряжением 300кВ, оснащен Cs-корректором (додекапольным корректором сферических аберраций ). Инструмент гарантирует беспрецедентное STEM-HAADF ( с кольцевым темнопольным высокоугловым детектором ) разрешение в 63 пм
Запатентованный JEOL ПРЭМ (STEM) Cs-корректор (корректор сферических аберраций) дает гарантированное разрешение в 63 пм для изображений просвечивающей сканирующей электронной микроскопии (STEM)
Запатентованный JEOL ПРЭМ (STEM) Cs-корректор (корректор сферических аберраций) дает гарантированное разрешение в 63 пм для изображений просвечивающей сканирующей электронной микроскопии (STEM)
JEM-1000
В силу того что сверхвысоковольтный электронный микроскоп имеет высокое (1 мегавольт) ускоряющее напряжение, длина волны (λ) электронов короткая – а это основной параметр определяющий разрешение микроскопа (d) в соответствии с формулой
d = 0.65Cs0.25λ0.75
В которой Cs – это коэффициент сферической аберрации. Таким образом, с сверхвысоковольтный электронным микроскопом атомарное разрешение получается независимо от величины зазора полюсного наконечника объективной линзы.
Другим преимуществом сверхвысоковольтного электронного микроскопа является высокая проникающая мощность, которая позволяет получать хорошо различимые изображения выявляя структуры толстослойных образцов. Это самое большое достоинство у сверхвысоковольтного микроскопа. Обычно, образец для (просвечивающего) электронного микроскопа должен быть ультратонким. Ультратонкие образцы иногда теряют основное свойства материала, который используется в качестве образца. С преимуществом сверхвысоковольтного напряжения возможно исследовать толстослойные препараты (образцы) которые сохраняют свойство исходного материала.
d = 0.65Cs0.25λ0.75
В которой Cs – это коэффициент сферической аберрации. Таким образом, с сверхвысоковольтный электронным микроскопом атомарное разрешение получается независимо от величины зазора полюсного наконечника объективной линзы.
Другим преимуществом сверхвысоковольтного электронного микроскопа является высокая проникающая мощность, которая позволяет получать хорошо различимые изображения выявляя структуры толстослойных образцов. Это самое большое достоинство у сверхвысоковольтного микроскопа. Обычно, образец для (просвечивающего) электронного микроскопа должен быть ультратонким. Ультратонкие образцы иногда теряют основное свойства материала, который используется в качестве образца. С преимуществом сверхвысоковольтного напряжения возможно исследовать толстослойные препараты (образцы) которые сохраняют свойство исходного материала.
JEOL JEM-1011
JEM-1011—продолжатель лучших традиций «бест-селлера» всех времен, знаменитого JEM-100. Электронная оптика прибора рассчитана на получение максимального контраста на биологических препаратах. Электронная оптика и вакуумная система управляются компьютером, а изображение может регистрироваться на широкоугольную цифровую камеру.
Управление прибором построено по принципу «одной кнопки», то есть многие стандартные последовательности действий выполняются одной командой, например: включение-выключение прибора, высокого напряжения, накала катода, смена образца и т.п.
Электронный микроскоп JEМ–1011, компактный, исключительно простой в управлении просвечивающий электронный микроскоп, был разработан на основе последних достижений электронной оптики для работы исследователей в области медицины и биологии.
Управление прибором построено по принципу «одной кнопки», то есть многие стандартные последовательности действий выполняются одной командой, например: включение-выключение прибора, высокого напряжения, накала катода, смена образца и т.п.
Электронный микроскоп JEМ–1011, компактный, исключительно простой в управлении просвечивающий электронный микроскоп, был разработан на основе последних достижений электронной оптики для работы исследователей в области медицины и биологии.
JEOL JEM-1400
JEM-1400—новейший прибор, оптимизированный для получения высококонтрастных высокоразрешающих изображений, в первую очередь на медико-биологических образцах.
Прибор может оснащаться цифровыми системами регистрации изображений, как производства JEOL (с матрицами Hamamatsu), так и производства третьих фирм.
Большое внимание при разработке данного ПЭМ уделялось простоте управления и высокой степени автоматизации при выполнении всех операций. Поэтому оператор может полностью сосредоточиться на объекте исследования, не отвлекаясь на выполнение каких-либо рутинных действий.
Новейший просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения и расширяемый до аналитической конфигурации, является удобным прибором для применений в исследованиях биологических образцов, образцов полимеров и для материаловедения.
Прибор может оснащаться цифровыми системами регистрации изображений, как производства JEOL (с матрицами Hamamatsu), так и производства третьих фирм.
Большое внимание при разработке данного ПЭМ уделялось простоте управления и высокой степени автоматизации при выполнении всех операций. Поэтому оператор может полностью сосредоточиться на объекте исследования, не отвлекаясь на выполнение каких-либо рутинных действий.
Новейший просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения и расширяемый до аналитической конфигурации, является удобным прибором для применений в исследованиях биологических образцов, образцов полимеров и для материаловедения.
JEOL JEM-2100
JEM-2100 построен на основе легендарного ПЭМ JEM-2010, который долгое время считался стандартом «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал наилучшие показатели надежности, качества изображений и аналитических возможностей среди всех 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения. JEM-2100 имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций. Прибор управляется компьютером на базе операционной системы Windows.
На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т.д.), держатели с охлаждением или нагревом, и т.п.
Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором.
На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т.д.), держатели с охлаждением или нагревом, и т.п.
Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором.
JEOL JEM-2100F
JEM-2100F по праву может называться «инструментом XXI века». Высокая стабильность, великолепные технические характеристики, расширяемость функциональных возможностей, высокое разрешение—основные черты этого прибора. Прибор JEM-2100F может оснащаться различными аналитическими приставками, широким спектром различных держателей и приставок.
При необходимости, данный ПЭМ может быть дооснащен корректорами сферических аббераций ПЭМ и ПРЭМ режимов, которые позволяют достичь субангстремного разрешения, как при получении изображений, так и при анализе
При необходимости, данный ПЭМ может быть дооснащен корректорами сферических аббераций ПЭМ и ПРЭМ режимов, которые позволяют достичь субангстремного разрешения, как при получении изображений, так и при анализе
JEOL JEM-2200FS
JEM-2200FS—оптимальное решение для исследований в области нанотехнологий, включая нанобиотехнологии, материаловедение и полупроводниковую промышленность.
Встроенный Омега-фильтр позволяет решать аналитические задачи, а также существенно улучшает контраст изображений, даже при работе с толстыми или замороженными образцами.
Микроскоп JEM-2200FS имеет встроенную прецизионную ПЗС камеру, взамен традиционного флуоресцентного экрана и бинокуляра.
Как и все ПЭМ последнего поколения, данный микроскоп имеет полностью автоматическую систему управления.
Встроенный Омега-фильтр позволяет решать аналитические задачи, а также существенно улучшает контраст изображений, даже при работе с толстыми или замороженными образцами.
Микроскоп JEM-2200FS имеет встроенную прецизионную ПЗС камеру, взамен традиционного флуоресцентного экрана и бинокуляра.
Как и все ПЭМ последнего поколения, данный микроскоп имеет полностью автоматическую систему управления.
JEOL JEM-ARM200F
JEM-ARM200F – прибор, анонсированный компанией JEOL в марте 2009 г. Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне. Разрешение в растровом просвечивающем режиме составляет (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов.
Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
JEM-ARM200F—квинтэссенция всех передовых разработок компании JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии. Гарантированные характеристики этого ПЭМ, а также его стоимость, превосходят заявляемые параметры любого из ныне существующих на рынке просвечивающих электронных микроскопа.
Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
JEM-ARM200F—квинтэссенция всех передовых разработок компании JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии. Гарантированные характеристики этого ПЭМ, а также его стоимость, превосходят заявляемые параметры любого из ныне существующих на рынке просвечивающих электронных микроскопа.
JEOL JEM-3100F
JEM-3100F – просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией, имеющий разрешение 0,17 нм—лучший показатель среди всех аналогичных приборов, доступных на рынке. Этот прибор особенно хорошо подходит для исследований наноматериалов.
Совершенная система цифрового управления прибором позволяет оператору с легкостью использовать все возможности этого ПЭМ.
Ускоряющее напряжение 300кВ делает возможным исследование достаточно толстых образцов, приготовленных с помощью систем резки сфокусированным ионным пучком. JEM-3100F – непревзойденный инструмент для решения широкого круга задач, как исследовательских, так и производственных: в области биологии, материаловедения, для анализа дефектов и контроля качества.
Совершенная система цифрового управления прибором позволяет оператору с легкостью использовать все возможности этого ПЭМ.
Ускоряющее напряжение 300кВ делает возможным исследование достаточно толстых образцов, приготовленных с помощью систем резки сфокусированным ионным пучком. JEM-3100F – непревзойденный инструмент для решения широкого круга задач, как исследовательских, так и производственных: в области биологии, материаловедения, для анализа дефектов и контроля качества.
JEM-3200FS
JEM-3200FS – единственный в мире 300 кВ просвечивающий электронный микроскоп, имеющий встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр. Благодаря Омега-фильтру этот прибор позволяет не только получать изображения с высоким разрешением, но и становится великолепным аналитическим инструментом, позволяющим делать элементный анализ на атомарном уровне.
Новая электронная оптика исключает паразитный поворот изображения, что обеспечивает не только удобство работы в режимах ПЭМ и дифракции, но и в режиме получения энергетических спектров.
Помимо Омега-фильтра, прибор имеет ряд других уникальных особенностей, например, это пьезо-гониометр, обеспечивающий перемещения образца с ангстремной точностью.
Новая электронная оптика исключает паразитный поворот изображения, что обеспечивает не только удобство работы в режимах ПЭМ и дифракции, но и в режиме получения энергетических спектров.
Помимо Омега-фильтра, прибор имеет ряд других уникальных особенностей, например, это пьезо-гониометр, обеспечивающий перемещения образца с ангстремной точностью.
JSM-7800FPRIME
Позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ
Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией
Растровые электронные микроскопы с автоэмиссионной пушкой (полевая эмиссия) обладают высокой разрешающей способностью (до 0,7 нм)
JCM-6000 Neoscope II
Новейший настольный растровый электронный микроскоп с вольфрамовым источником электронов
JSM-IT100
Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL.
Основные преимущества:
• Надежная электронно-оптическая колонна, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса;
• Катоды предварительно отцентрированы на заводе; их замена занимает считанные минуты;
• Полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система ;
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows 7 с хорошо развитой системой подсказок и обучающих видеопособий;
• Программа Smile View для быстрого создания отчетов;
• Использование шлюзовой камеры снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катода и диафрагмы объективной линзы в несколько раз;
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 150 мм, а также устанавливать множество разнообразных приставок.
Основные преимущества:
• Надежная электронно-оптическая колонна, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса;
• Катоды предварительно отцентрированы на заводе; их замена занимает считанные минуты;
• Полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система ;
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows 7 с хорошо развитой системой подсказок и обучающих видеопособий;
• Программа Smile View для быстрого создания отчетов;
• Использование шлюзовой камеры снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катода и диафрагмы объективной линзы в несколько раз;
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 150 мм, а также устанавливать множество разнообразных приставок.
JSM-7610F
Растровый электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Обеспечивает высокое разрешение (0,8 нм при 30 кВ в ПРЭМ-режиме и 1,0 нм при 15 кВ в режиме регистрации вторичных электронов) Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.).
JSM-7800FPRIME
Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму «Gentle Beam» (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.
JSM-7100F
JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА).
JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Благодаря уникальной конструкции электронно-оптической колонны достигается высокая стабильность пучка во времени, что очень важно при использовании методов энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции.
JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Благодаря уникальной конструкции электронно-оптической колонны достигается высокая стабильность пучка во времени, что очень важно при использовании методов энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции.
JSM-7500F
JSM-7500F – автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков.
Низкая чувствительность к вибрациям пола и акустическим шумам существенно снижают требования по подготовке помещения для установки JSM-7500F. Полностью обновленный интерфейс позволит даже начинающим операторам автоэмиссионных растровых микроскопов чувствовать себя уверенно рядом с данным прибором и получать хорошие результаты.
Низкая чувствительность к вибрациям пола и акустическим шумам существенно снижают требования по подготовке помещения для установки JSM-7500F. Полностью обновленный интерфейс позволит даже начинающим операторам автоэмиссионных растровых микроскопов чувствовать себя уверенно рядом с данным прибором и получать хорошие результаты.
JSM-7600F
JSM-7600F – новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп JEOL, в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики JEOL. Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ). Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур.
Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1,2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки «In-lens» , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах. Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным. Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах. На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL. Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров.
Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1,2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки «In-lens» , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах. Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным. Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах. На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL. Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров.
JSM-7800F
JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.
JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.
JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.
JSM-6510
JEOL JSM-6510 - компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.
Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.
Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.
Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией
Растровые электронные микроскопы с автоэмиссионной пушкой (полевая эмиссия) обладают высокой разрешающей способностью (до 0,7 нм). В автоэмиссионной пушке используется катод в форме острия, у вершины к-рого возникает сильное элекгрич. поле, вырывающее электроны из катода (автоэлектронная эмиссия). Электронная яркость пушки с автоэмиссионным катодом в 103-104 раз выше яркости пушки с термокатодом. Соответственно увеличивается ток электронного зонда.
JIB-4501
JIB-4501 произвдства JEOL (Япония) – это двухлучевая система, представляющая собой многофункциональный растровый электронный микроскоп, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.
JSM-IT300
EOL JSM-IT300 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.
На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа системы такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа и система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Так же возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различные системы индентирования и.т.д.
На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа системы такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа и система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Так же возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различные системы индентирования и.т.д.
JSM-6010
Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением. Отличительной особенностью данной модели является его мобильность, т.е. для его работы не требуется подключение воды, а все вакуумные насосы находятся непосредственно на главном блоке, таким образом микроскоп можно перемещать по помещению, главное что бы рядом был источник электричества.
Прибор оснащен детекторами вторичных и обратноотраженных электронов, а также позволяет работать в условиях низкого вакуума. Это позволяет решать с помощью данного микроскопа широкий спектр задач в области материаловедения, биологии, медицины, геологии и т.д.
Прибор оснащен детекторами вторичных и обратноотраженных электронов, а также позволяет работать в условиях низкого вакуума. Это позволяет решать с помощью данного микроскопа широкий спектр задач в области материаловедения, биологии, медицины, геологии и т.д.
JCM-6000 Neoscope II
JCM-6000 Neoscope II – это НОВЕЙШИЙ настольный растровый электронный микроскоп с вольфрамовым источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов, он обладает намного большей глубиной фокуса и несравнимо лучшим разрешением. Как следствие этого, JCM-6000 может работать в диапазоне увеличений от x10 до х60000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры, возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-6000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве. Прибор настолько надежен в эксплуатации, прост и удобен в работе, что помимо использования для решения рутинных задач, он может использоваться и в учебных целях.
JIB-4610F Multi Beam
Совмещенные в одной системе Катод шоттки с полевой эмиссией и Галлиевая ионная пушка
JIB-4501 MultiBeam SEM-FIB
Ток пучка: до 60 nA (30 kV)
Галлиевая ионная пушка
Галлиевая ионная пушка
JIB-4000 Focused Ion Beam Milling & Imaging System
Позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ
JEM-9320FIB
Совмещенные в одной системе Катод шоттки с полевой эмиссией и Галлиевая ионная пушка
JIB-4610F Multi Beam
Совмещенные в одной системе Катод шоттки с полевой эмиссией и Галлиевая ионная пушка
Параметры объектодержателя:
-детектор STEM (option)
Параметры объектодержателя:
- Диаметр до 150 mm высота до 6 дюймов
- X: 50mm Y: 50mm
- Z: от 1.5mm до 41mm
- Наклон: -5° до 70°
- Вращение: 360°
- Ультра-конусная объективная линза Aperture angle optimizing lens(линзы оптимизированные по углу раскрытия)
- Lower electron detector (детектор низкоэнергетических электронов)
-детектор STEM (option)
- Gentle Beam (specimen bias voltage 0 to -2,000V) GIS (C, W, Pt), EDS, WDS, EBSD, CL, Cryo, Chamber camera, Stage navigation system (SNS)
- SEM: 1.2nm (30kV), 3.0nm (1kV)
- FIB: 4 nm (30kV)
JIB-4501 MultiBeam SEM-FIB
- Ток пучка: до 60 nA (30 kV)
- Галлиевая ионная пушка
- Вытравливаемая область:
- прямоугольник линия или точка
- Параметры объектодержателя:
- Диаметр 28 mm высота 13 mm
- Диаметр 50 mm высота 2 mm
- X: ± 11mm Y: ± 15mm
- Z: от 0.5mm до -23mm
- Наклон: -5° до 60°
- Вращение: 360°
- РАЗРЕШЕНИЕ: 5 nm (на 30 kV)
- Увеличение: x60 (обзорный)
- от x200 до x300,000
- Ускоряющее напряжение: От 1 до 30 kV (с шагом в 5 kV)
JIB-4000 Focused Ion Beam Milling & Imaging System
- Галлиевая ионная пушка
- Ток пучка до 60 nA (30 kV)
- Вытравливаемая область:
- прямоугольник линия или точка
- Обеспечивает нанесение (покрытие) на поверхность образца углерода, вольфрама, платины
- Параметры объектодержателя:
- Диаметр 28 mm высота 13 mm
- Диаметр 50 mm высота 2 mm
- X: ± 11mm Y: ± 15mm
- Z: от 0.5mm до -23mm
- Наклон: -5° до 60°
- Вращение: 360°
- РАЗРЕШЕНИЕ: 5 nm (на 30 kV)
- Увеличение: от x200 до x300,000 x60 (обзорный)
- Ускоряющее напряжение: От 1 … 30 kV (с шагом 5 kV)
JIB-4500
JEOL JIB-4500 Multibeam - бюджетная двухлучевая (ионно-электронная) система с автоэмиссионным LaB6 источником электронов и ионной пушкой для микротравления производства компании JEOL (Япония)
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.
JEOL JIB-4500 MultiBeam – это недорогой в обслуживании высокопроизводительный растровый электронный микроскоп (РЭМ) с катодом из гексаборида лантана + высокопроизводительная приставка со сфокусированным ионным пучком (Focused ion beam).
Прибор оснащен высокочувствительными детекторами, которые могут работать одновременно в режиме реального времени.
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.
JEOL JIB-4500 MultiBeam – это недорогой в обслуживании высокопроизводительный растровый электронный микроскоп (РЭМ) с катодом из гексаборида лантана + высокопроизводительная приставка со сфокусированным ионным пучком (Focused ion beam).
Прибор оснащен высокочувствительными детекторами, которые могут работать одновременно в режиме реального времени.
JIB-4600F
JIB-4600F MultiBeam —гибридная система, сочетающая в себе высокоразрешающий РЭМ и систему со сфокусированным ионным пучком для микротравления (послойное травление образцов).
РЭМ позволяет позиционировать ионный пучок в место травления с высокой точностью и визуализировать процесс травления с разрешением до 1.2 нм.
Благодаря высокому току зонда (до 200 нА), прибор позволяет эффективно использовать приставки для микроанализа (ЭДС, ДОРЭ), а большое количество портов открывают широкие возможности по дооснащению прибора различными приставками.
Также, непосредственно в камеру образцов данного прибора возможна установка наноманипуляторов серии Omniprobe, которые позволяют производить различные механические манипуляции с модифицируемыми объектами.
РЭМ позволяет позиционировать ионный пучок в место травления с высокой точностью и визуализировать процесс травления с разрешением до 1.2 нм.
Благодаря высокому току зонда (до 200 нА), прибор позволяет эффективно использовать приставки для микроанализа (ЭДС, ДОРЭ), а большое количество портов открывают широкие возможности по дооснащению прибора различными приставками.
Также, непосредственно в камеру образцов данного прибора возможна установка наноманипуляторов серии Omniprobe, которые позволяют производить различные механические манипуляции с модифицируемыми объектами.
JEM-9320FIB
Система сфокусированного ионного пучка JEM-9320FIB предназначена для модификации образцов тонкосфокусированным пучком ионов галия. Пушка с источником из жидкого галия обеспечивает токи до 30 нА при малом диаметре зонда.
Пучок ионов фокусируется при помощи системы электростатических линз и сканирует поверхность образца, который, в свою очередь, испускает вторичные электроны, результатом детектирования которых являются изображения растровой ионной микроскопии (SIM).
При больших токах пучка JEM-9320FIB производит высокоскоростную точечную модификацию образца путем ионного травления. Вытравливаемая область может являться прямоугольником, линией или точкой.
Прибор может изготавливать тонкие образцы (из широкого класса материалов) для просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Также он делает возможным получение поперечных срезов образцов РЭМ.
Пучок ионов фокусируется при помощи системы электростатических линз и сканирует поверхность образца, который, в свою очередь, испускает вторичные электроны, результатом детектирования которых являются изображения растровой ионной микроскопии (SIM).
При больших токах пучка JEM-9320FIB производит высокоскоростную точечную модификацию образца путем ионного травления. Вытравливаемая область может являться прямоугольником, линией или точкой.
Прибор может изготавливать тонкие образцы (из широкого класса материалов) для просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Также он делает возможным получение поперечных срезов образцов РЭМ.
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы. Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
