Анализаторы химического состава

Компактный стационарный напольный одноматричный оптический эмиссионный спектрометр GS1000-II на ФЭУ (фотоэлектронные умножители Hamamatsu) предназначен для проведения быстрого и точного экспресс-анализа.

Благодаря надёжной конструкции и простому управлению, прибор идеален для использования на заводе, как для входного контроля, так и для контроля материалов.

В порядке обеспечения гарантии независимости от внешних условий, окружающих спектрометр, детекторы (фотоумножители) и интегрирующая система помещены в термостабилизированную вакуумную камеру.

Аналитические возможности покрывают точный анализ коротковолновых элементов, таких как углерод, фосфор, сера и азот в сталях и чугунах и фосфор в алюминии.

Подобно всем приборам OBLF, электрические искры генерируются цифровым строб-импульсным генератором, с возможностью простого задания наилучших из возможных параметров возбуждения в комбинации с коротким временем анализа.

Необходимо минимальное техническое обслуживание благодаря открытой конструкции и самоочищающемуся искровому штативу. Отличительной чертой является патентованная система подачи аргона оптимизированная для поддержания минимального расхода аргона, в результате – очень низкие эксплуатационные расходы.

Оптический эмиссионный спектрометр OBLF QSG 750-II

Заказать

Оптический эмиссионный спектрометр QSG 750 западногерманской фирмы OBLF Spectrometry GmbH на полном основании может называться флагманской моделью. Эта одно- или многоматричная модель идеальна для всех приложений, требующих наименьших возможных пределов обнаружений, максимальной воспроизводимости и дополнительной металлургической информации об определяемом веществе. Спектр применений лежит от основных производств сталелитейного или прокатного завода и металлообрабатывающих производств вплоть до исследовательских институтов и университетов.

Основное отличие от остальных приборов OBLF заключается в системе регистрации данных, основанной на разработанной OBLF GISS-технологии (Gated Integration of Single Sparks – Стробируемого Интегрирования Единичных Искр). GISS-технология регистрации в комбинации с обработкой интенсивностей единичных искр всех измерительных каналов в режиме реального времени вместе со спектроскопией временного разрешения делает возможными многочисленные дополнительные применения. Спектрометрия единичных искр (или PDA – pulse distributed analysis – анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента (например, алюминия в стали), также позволяет обнаруживать и определять включения.

Оптический эмиссионный спектрометр OBLF VeOS

Заказать

Оптический эмиссионный спектрометр OBLF VeOS – универсальный, гибкий и быстрый анализатор всех распространённых металлических материалов. В спектрометре VeOS используется самая передовая детекторная технология на основе полупроводниковых сенсоров, специально разработанных для эмиссионной спектроскопии. Аналитические способности обеспечивают точный анализ коротковолновых элементов, таких как азот или низкий углерод.

Прибор VeOS фирмы OBLF является первым стационарным эмиссионным спектрометром, основанным на полупроводниковой сенсорной системе, аналитические возможности которой, - включая требуемое для лабораторного спектрометра спектральное разрешение, - отнюдь не уступают приборам, основанным на надежных фотоумножителях. Здесь впервые применены фотосенсоры с превосходными характеристиками по требуемому диапазону волн – от 130 до 780 нм. Конструкция светочувствительных детекторов CMOS была специально приспособлена для требований эмиссионной спектрометрии. Они отличаются большой светочувствительной поверхностью, которая в 100 раз больше, чем в сопоставимых системах. Также в спектрометрах OBLF VeOS используются специальные CCD матрицы Hamamatsu. Благодаря этому в приборе удалось объединить наилучшую комбинацию спектральной чувствительности и спектрального разрешения при максимальной гибкости для решения аналитических задач. Последующее добавление аналитических линий легко осуществимо без значительных изменений оптической системы прибора.